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微波暗室设计

微波暗室


微波暗室主要用于对待测件的辐射或散射性能进行检测,主要分为远场暗室(含紧缩场,紧缩场主要用于RCS检测)、平面近场暗室、柱面近场暗室及球面近场暗室。一般大型雷达天线均采用近场测试,宽波速天线一般采用球面近场和柱面近场测试,随着对测试要求的提高,多功能暗室(含近场、远场及EMC测试与一体)的需求逐步扩大。

通过项目建设提供一个对受试设备进行电磁兼容测试所需的电磁环境和测试条件,能有效地消除外来电磁波的干扰和各种反射干扰,以获得可靠、规范的测试数据,主要目的是进行辐射发射和抗扰度的符合性测试。



引用标准:
GB50826-2012        《电磁波暗室工程技术规范》
GB/T12190-2006     《电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法》
GB/T50719-2011     《电磁屏蔽室工程技术规范》
GB50017—2003      《钢结构设计规范》
GB50009—2012      《建筑结构荷载规范》
GB50205—2001      《钢结构工程施工质量验收规范》
GB50034-2013        《建筑照明设计规范》
GB50052-2009        《供配电系统设计规范》
GB50019-2015        《工业建筑供暖通风与空气调节设计规范》
GB50116-2013        《火灾自动报警系统设计规范》
GB4717-2015          《火灾报警控制器》
GB50016-2010        《建筑设计防火规范》
GB50057-2010        《建筑物防雷设计规范》
GB/T2406-93          《塑料燃烧性能试验方法氧指数法》
GB8624-2012         《建筑材料及制品燃烧性能分级》
GJB6780-2009        《微波暗室性能测试方法》
GJB5239-2004        《射频吸波材料吸波性能测试方法》

微波暗室性能要求
微波暗室性能由独立的第三方机构进行测试,主要测试指标有屏蔽效能、静区性能、场均运行、交叉极化电平等。
屏蔽效能指标:满足EN50147-1,GB/T 12190-2006标准。

静区性能有待测件及测试要求决定,影响待测件的测量精度。
均匀场性包括纵向场幅均匀性,一般≤±2dB
横向场幅均匀性,一般≤±0.25dB
交叉极化电平,一般≤25dB
微波暗室规格
平面近场:可测试体积大、窄波速的雷达天线。
柱面近场:可测试宽波速大天线。
球面近场:宽波速三维方向图测试,如普通基站天线、5G天线等。
紧缩场:可进行隐身特性测试及远场测试。
普通远场:主要针对不太大的待测件测试。
仿真暗室:仿真目标特性测量。

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